-
波长色散型X射线荧光光谱仪岛津XRF-1800型 应用于地矿/有色金属
-
波散型XRFXRF-1800型波长色散型X射线荧光光谱仪 适用于检测土壤中9大有害元素
-
XRF-1800型岛津波长色散型X射线荧光光谱仪 可检测稀土元素矿石
薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法 利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢(H)元 素的信息。高分子薄膜分析中,利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜
-
岛津波散型XRF波长色散型X射线荧光光谱仪 可检测钢板涂层
。利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例· 测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法 利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢(H)元 素的信息
-
反,反-2,4-庚二烯醛 CAS:4313-03-5 乐研Leyan.com
乐研Leyan.com:致力于为医药研发提供高品质化学试剂服务。反,反-2,4-庚二烯醛CAS No. :4313-03-5产品编号:1032612英文名称:(2E,4E)-Hepta-2
-
波散型XRF波长色散型X射线荧光光谱仪XRF-1800型 使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例
高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法 利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢(H)元 素的信息。高分子薄膜分析中,利用康普顿散射线的理论强度作为
-
岛津波长色散型X射线荧光光谱仪波散型XRF 稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例
-
XRF-1800型岛津波散型XRF 适用于成像分析
-
波长色散型X射线荧光光谱仪波散型XRF岛津 应用于土壤
-
岛津XRF-1800型波长色散型X射线荧光光谱仪 土壤中9大有害元素的分析-波长色散X射线荧光光谱法
无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法 利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢(H)元 素的信息。高分子薄膜分析中,利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜 的信息。使用
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net