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STOE粉晶衍射仪 反射模式样品I
反射模式样品Il 反射模式适用于不能使用透射或者毛细管技术的所有情况,例如:金属材料,涂层材料,薄膜材料,甚至大尺寸成品样品的测试; l 反射模式适用于不能使用透射或者毛细管技术的所有情况
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STOE 粉晶衍射仪反射模式样品II
反射模式样品IIl 利用反射模式来确定薄膜厚度,组成和界面粗糙度l 利用掠射实验来对薄膜进行相分析 l 利用反射模式来确定薄膜厚度,组成和界面粗糙度 l 用配备数字显示的千分尺来
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STOE 透射模式样品进样器
透射模式样品进样器l 高达30个样品的容量l 容易加载/卸载功能 l 采用STOE 的WinXPOW的软件平台进行控制 l 采用STOE 的WinXPOW的软件平台进行控制适用于
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反射模式样品进样器(粉末衍射
反射模式样品进样器l 高达12个样品的容量 l 针对块状样品的不同厚度,容易进行高度调节 l 针对块状样品的不同厚度,容易进行高度调节l 利用STOE的WinXPOW软件平台进行
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粉晶毛细管模式样品进样器
毛细管模式样品进样器l 可以进行10个毛细管样品的自动进样l 通过STOE软件来调整毛细管在X射线束中的位置和曝光时间l 附加手动高度调节来优化样品在光束中的位置 l 通过STOE软件
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STOE 单晶衍射仪 磁力测角头
磁力测角头l 支持磁性晶体l 不需要特殊的调整工具l 拥有67~110mm的可调节高度 l 不需要特殊的调整工具 l 高度调整后不需要重新调整晶体l 适用于:IPDS II
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单晶衍射仪 XYZ轴固定测角头
l 所有的移动都在一个直径φ28mm的柱面内。l 适用于:STOE IPDS II & 2T /STADIVARI l 共心的可调高度:59mm-72mm,或者在基座上安装
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单晶衍射仪 高度锁定测角头
高度锁定测角头l 共心高度的调节范围:基座上方55-65mm;l 水平移动范围:±4mm;l 调节弧度:±20°;l 读数精度:0.1°; l 共心高度的调节范围:基座上方
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单晶衍射仪 标准测角头
标准测角头l 共心在基座上方63mm/96mm;l 水平移动范围:±4mm;l 调节弧度:±20°;l 读数精度:0.1°; l 所有的移动都在直径φ46mm的柱面内进行。 l
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Pilatus 3X系列探测器
l 动态范围:20 bits;l 点扩散函数为1 像素:172 × 172μm2; l 读出时间:0.95毫秒; X系列特点:l 高达500Hz的帧速率;l 读出时间:0.95
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