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大连日普利气相色谱仪GS-101T
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露点仪大连日普利LD-200/LD-220
大连日普利科技仪器有限公司许LD-200露点仪技术指标: 露点测量范围:-100-+20℃基本误差:≤±2℃模拟输出:4-20mA校准周期:12个月温度系数:温度补偿样气流
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Precisa 普利赛斯 321XJ 精密电子天平
,品质卓越,但价格高。为了让瑞士天平不再昂贵,瑞士普利赛斯及中国的研发团队历时三年、联合打造并推出321XJ系列电子天平它基于普利赛斯正在全球热销的321系列天平MFR电磁力补偿传感器及底座,配置5
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普利赛斯ES 125SM微量电子分析天平
Readability (mg): 0.01Min Capacity (g): 100 gCapacity: 125 gReadability: 0.01 mgRepeatability
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普利赛斯分析电子天平321LS120A-SCS
产地类别:校准方式: 智能内自校重复性: 0.0001g测量精度: 0.1mg最大量程: 120G仪器量程: 20-100g仪器精度: 万分之一克仪器种类: 分析天平 普利赛斯
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普利赛斯EP8200C-DR双量程电子精密天平
全铝合金铸造基座,抗腐蚀密封键盘高性能、高集成度的电子线路高磁能芯电磁平衡称重系统工作模块隔离,降低工作气流,称重结果更快更稳定人性化的人机对话方式标配近乎齐全的应用程序可以使用多种通讯功能
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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