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高精度光线调整专用位移台
仪器简介: APFP精密光纤调整架主要零部件采用热稳定性优越的不锈钢,无需再担心漂移问题。APFP精密光纤调整架采用交叉滚柱导轨副实现位移,完全刚性调整,稳定性极佳
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基恩士 高精度接触式数字传感器 GT2
基恩士接触式测量,长期稳定使用、不惧油污环境。高精度接触式数字传感器GT2 系列,通过接触实现,从0mm至50mm的高精度测量,水、油环境一样耐用。1μm精度,2亿次使用寿命。
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F10-AR 薄膜厚度测量仪
F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。虽然价格大大低于当今绝大多数同类仪器,应用几项技术
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析
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F60-t 薄膜厚度测量仪
自动化薄膜厚度绘图系统依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户
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F10-HC 薄膜厚度测量仪
以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。
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薄膜厚度台阶仪
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CMOS传感器 ELIS-1024-LG
ELIS-1024-LG线性图像传感器由一组高性能、低暗电流的光电二极管组成。该传感器具有采样和保持能力、可选分辨率和先进电源。
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F54-XYT-300薄膜厚度测量仪
F54-XYT-300 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XYT-300先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪
F54-XY-200 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XY-200先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提
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