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SI-F80R系列 分光干涉式晶片厚度计
采用近红外 SLD,即使已贴附 BG 带也可测量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于图案而产生的显著差异,也可实现准确的生产线上测量。
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基恩士干涉式同轴 3D 位移测量仪 WI-5000 系列
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高速度数码显微系统 VW-9000 系列
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基恩士SJ-E系列混合型超高速感应静电消除器
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基恩士-条码/二维码读取器 SR-2000
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基恩士 荧光显微成像系统BZ-X800E
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超高速/ 高精度CMOS激光位移传感器LK-G5000
激光位移传感器必须同时具备速度,精度和卓越性能,以便胜任所有应用。LK-G5000 采用了国际顶尖技术,力争在各个方面都做到世界最佳。
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一体化荧光显微成像系统 BZ-X810
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GL-S系列 安全光栅
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基恩士 高精度接触式数字传感器 GT2
基恩士接触式测量,长期稳定使用、不惧油污环境。高精度接触式数字传感器GT2 系列,通过接触实现,从0mm至50mm的高精度测量,水、油环境一样耐用。1μm精度,2亿次使用寿命。
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