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堀场X射线荧光分析仪 XGT-1000WR
★ 自动元素干扰修正、厚度补偿★ 数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功能 堀场X射线荧光分析仪Horiba X射线荧光分析仪,快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器
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激光粒度电位检测仪
激光粒度电位检测仪 仪器参数: 粒径测量范围粒度分析:0.3 nm - 10 μm分析方法粒度分析:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 NiComp 无约束自由拟合多峰算法pH值范围2
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Nicomp 380 在线粒径检测仪
)原理来获得范围在0.3 nm到10 μm的胶体体系的粒度分布。DLS是通过一定波长的聚焦激光束照射在悬浮于样品溶液的粒子上面,从而产生很多的散射光波。这些光波会互相干涉从而影响散射强度,散射强度随时
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喷雾粒度分析仪Spraylink
项目性能指标或描述(右上角标“*”者仅适用于Spraylink-E型产品)测量原理激光衍射/静态散射光学模型完全米氏理论,包括高浓度补偿技术粒径范围0.1μm(0.3μm *) -2080
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EKO DisperSizer DS-1 粒度分布分析器
/cm3粒子浓度0.5 % v/v50 % v/v*溶剂水和非水溶剂 测量参数每个单一的测量时间2 min DS-1是一个强大的、可靠的和易于使用的粒度分布分析仪提供了可靠和可重复的结果集中,浑浊的
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探头式超声颗粒粒度分布测量仪
%(标准粒子D50偏差)v 准确性误差:≤±1%(标准粒子D50偏差)v 超声频率:35 MHz 和50 MHz 两种 NanoSonic超声粒度分布仪,拥有zl技术,是国内先进的
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Nicomp 380 N3000 纳米激光粒度仪
15 mW的半导体激光光源,PMT探测器,以及固定90度检测角。进样方式为嵌入式样品池。Nicomp 380纳米粒径分析仪是全球唯一在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的
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Saturn DigiSizer II数字式激光粒度仪
了形成散射图案的粒度分布所需的信息。 美国麦克仪器公司的Saturn DigiSizer激光粒度仪应用了CCD以后,就可以不需要使用光学校准机械微调装置。该仪器通过重新测绘CCD阵列
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Topsizer激光粒度分析仪
:既可测量须在液体中分散的样品,也可测量须在气体中分散的粉体材料。二、工作原理:利用颗粒对光的散射现象,根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化,使
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贝克曼库尔特LS13 320系列全新微纳米激光粒度分析仪
分布,主要适用于粉体或各种材料颗粒粒度分析。 贝克曼库尔特LS 13 320系列微纳米激光粒度分析仪应用颗粒光散射原理,据光学理论推算颗粒粒度分布,主要适用于粉体或各种材料颗粒粒度分析,其
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