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我的样品是溶胶凝胶制备的VO2薄膜,用SEM测量时,测量的区域一会儿(小于1分钟)就会发黑,影响测量,如图。请问,谁碰到过并了解这是怎么回事。大家交流下。,样品的导电性不好 在聚焦的时候局部电压过高 样品温度过高而变黑的!,同意二楼的看法
2015年09月24日发布人:n111
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我的样品是溶胶凝胶制备的VO2薄膜,用SEM测量时,测量的区域一会儿(小于1分钟)就会发黑,影响测量,如图。请问,谁碰到过并了解这是怎么回事。大家交流下。,样品的导电性不好 在聚焦的时候局部电压过高 样品温度过高而变黑的!,同意二楼的看法
2015年03月24日发布人:钻石
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[size=2]请问用激光拉曼仪能测量薄膜的厚度、折射率及应力吗?它能对薄膜进行那些方面的测量呢?[/size],[size=2]应该不能测薄膜的厚度、折射率及应力吧[/size],[size=2]现在的共焦显微拉曼可以做膜及不同层膜的
2015年04月17日发布人:松子儿
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具体问题是:目前测定的样品为金属薄膜,厚度为50um左右,尺寸为100um。
对样品表面的场发射扫描电镜观察发现,表面有规则排布的突起结构,尺寸大约为50nm,呈锥状造型。
现在想知道这些锥状突起结构的物相是什么?因其尺寸过小,分布
2016年01月26日发布人:钻石
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在文献中看到锰碳的复合材料做电化学,用Hg/HgO做参比电极,在1M的KOH中,做循环伏安,电势窗的范围是-1v——0v,现在我也准备做这方面的材料,但只有饱和甘汞电极,那么我做循环伏安电势窗的范围应该是从多少到多少呢? 怎么算啊
2016年03月20日发布人:兔子
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为确定SiC颗粒表面包裹的Cu是否以结晶相形式存在,对镀铜后的SiC/Cu复合粉体进行X射线衍射。图1 为包裹SiC粉体的XRD,通过XRD曲线可以得知,SiC颗粒表面包裹了Cu,且铜峰比较高,这进一步说明了SiC粉体表面确实镀了一层很厚
2015年12月06日发布人:vbnm
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我的样品是溶胶凝胶制备的VO2薄膜,用SEM测量时,测量的区域一会儿(小于1分钟)就会发黑,影响测量,如图。请问,谁碰到过并了解这是怎么回事。大家交流下。,样品的导电性不好 在聚焦的时候局部电压过高 样品温度过高而变黑的!,同意二楼的看法
2015年10月08日发布人:zouyou
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手上有个进口材料,已知是某种热固性树脂和氧化铝长纤维复合的。
现在要准确定性分析其中的树脂,用啥方法好
DSC?貌似木有熔融峰。。
[url=http://www.antpedia.com
2011年01月15日发布人:miglee
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[size=2][color=DarkRed][font=黑体]标签:反射[/font][/color]
是不是不是在中红外有吸收?衬底用的是《100》硅片[/size],[size=2]你这个所谓的薄膜是什么材料呢?是镀层吗
2014年12月11日发布人:Ao7
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“新型复合材料及界面(表面)结构与性能关键科学问题研究”不知道大家看了该项要求能想到什么方面。是限制在表界面层次上解决问题的探索呢,还是要研究界面与性能之间的相互影响关系呢。这里的关键科学问题又改界定在什么范围才算?,复合的情况主要看界面
2016年03月03日发布人:yuanyuan