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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAOX010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: COCO20010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAHE010013旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6
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赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGA000010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6
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装置7法溶出度仪Agilent 400-DS安捷伦 适用于安捷伦为杂质分析难题提供支持和解决方案
、萃取物和浸出物等的测试。 这是第一台专为组合药物产品小体积溶出度测试而设计的溶出度仪,符合 USP 7 法所有的法定要求。400-DS 遵循 21 CFR Part 11 法规,为您的质量控制和
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LC/MSD液质Agilent InfinityLab 系统 适用于有机杂质
安捷伦液质LC/MSD适用于有机杂质项目,参考多项行业标准USP 39。可以检测胰高血糖素等样品。可应用于制药/仿制药行业领域。 采用多中心切割 (MHC) 二维液相色谱 (2D-LC) 从 MS
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液质沃特世ACQUITY QDa 适用于杂质鉴定
沃特世液质ACQUITY QDa可用于测定农药,适用于杂质鉴定项目。并且参考多项行业标准。可应用于农药行业领域。 简介 Separating Beyond Question-为您带来全新的质谱检测
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安捷伦7900ICP-MS 适用于超痕量元素杂质
安捷伦ICP-MS7900用于测定太阳能(光伏)级硅块,符合行业标准。适用超痕量元素杂质项目。 本文介绍了一种使用Agilent 7500cs ICP-MS 测定光伏级硅中存在的超痕量元素杂质的新型
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