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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGA000010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: COCO20010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门、转头和传动装置加热样品隔板确保样品
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAOX010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAHE010013旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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芯硅谷 3D立体无纺布口罩(三层),弹力布耳挂
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CS150NX/CS150(F)NX艾本德Eppendorf CS-(F)NX 系列微型超速(himac) 应用于杂质分析
点击查看下载CS150NX/CS150(F)NX艾本德Eppendorf CS-(F)NX 系列微型超速(himac) 应用于杂质分析相关资料,进一步了解产品。 作为深耕生命科学领域超过75年的
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耶拿 Fastblot B43 半干转印系统 高效地对蛋白质进行印迹
产品特点:1.快速均一的蛋白质转印,可用于大到150kDa的蛋白质转印2.只需要很少的缓冲液,在10至30分钟即可完成转印3.无需维护的金属电极4.B43转印系统,带有流动冷却装置,能带走转印时产生
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