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原位时间分辨纳米粒度分析仪激光粒度仪Vasco Kin 用于动力学监控的原位纳米粒度测量技术
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SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature扫描电镜 应用于纳米材料
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可以用在高分子材料行业领域,用来检测 Li-Ion battery,可完成Identifying contaminants
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SEM专用颗粒物分析系统 — 扫描电镜AZtecFeature 应用于纳米材料
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature可以用在纳米材料行业领域,用来检测Power Semiconductors,可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford
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SEM专用颗粒物分析系统 — 扫描电镜AZtecFeature 纳米材料生长和表征
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SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature扫描电镜 应用于纳米材料
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Nano Material的检测。可以用在纳米材料行业领域中的Nano Material项目。 纳米
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固体原位分析专家PhAT系统
固体原位分析专家PhAT系统-独一无二 PhAT 系统固体原位分析专家是在RAMANRXN1TM的基础上革新生成的。它利用专利的PhAT技术,实现不同大面积的典型采样,突破了传统的
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赛默飞(原FEI)透射电镜透射电镜
极高的应用灵活性,再加上超高稳定性的电子镜筒,为高分辨率三维表征、原位动态观察和衍射应用提供了新的机会。TalosF200C特别适合高衬度成像和低温TEM应用。此外,TalosF200C(S)TEM还
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(原FEI) 透射电镜赛默飞透射电镜
分辨率,以及更多高分辨TEM应用。X-FEG高亮度电子枪具有高稳定性和长寿命等特点,使其成像效率更高。视野更大,速度更快Talos快速D/TEM成像支持高分辨率和原位动态成像
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原位探针离子化质谱仪岛津其它质谱
岛津原位探针离子化质谱仪DPiMS-2020是一种新型的质谱分析仪,基于岛津单四极质谱分析仪LCMS-2020,同时配备探针电喷雾离子源。该仪器采用了精密的探针取样式设计,无需样品制备即可快速进行
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原位探针离子化质谱仪岛津 DPiMS-2020
岛津DPiMS-2020是一种新型的质谱分析仪,基于岛津LCMS-2020单四极质谱分析仪并配备探针电喷雾离子源。该仪器采用精密的探针取样设计,无需样品制备即可快速分析样品。其技术基于探针电喷雾离子化
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