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西凡矿石粉末分析仪XF-M5
XF-M5矿石粉末检测仪是西凡仪器针对矿石、粉末等检测的一款高端X射线荧光光谱仪,可广泛应用于矿厂、冶金和三元催化剂回收等行业和单位。该产品采用先进的进口定制Fast SDD探测器,内置四核
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安东帕Cobrix5在线饮料分析仪
可持续得到控制。可以通过 Cobrix 5 提供的这些参数以及其他主要参数,完全掌控生产:糖度 °Brix:高准确度 U 型管密度计用于测定 °Brix。该仪器类似于安东帕的 PBA-SI(用于含转化
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TMI 75-59 TS-4 热封仪
83.8 cm(23 in x 20 in x 33 in)TS-4 热封仪一种实验室热密封设备,用于制备热密封样品,用于测量柔性包装薄膜、薄膜箔片、非织造布和其他衬底的密封强度。 75-59
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ChemFIA CAS-400 自动进样器
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美国Brookfield博勒飞-- PV-100粘度计
6.4兆帕( 930PSI)输出信号 4-20 毫安 美国BROOKFIELD博勒飞粘度计,率先创立粘度测量的世界标准,积半个多世纪的专业经验,博勒飞为您提供高性能价格比、高精度而操作简便
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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西凡贵金属/液体检测仪XF-A5S
XF-A5S贵金属检测仪是西凡仪器针对贵金属成分检测的一款X射线荧光光谱仪,可广泛应用于黄金回收、珠宝首饰工厂、展厅等行业和单位。该产品采用美国进口定制Si-PIN探测器,内置四核CPU工控
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