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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的zei合适
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E8-SPR 镀层测厚仪器、RoHS检测
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德国betacontrol在线测厚仪
夹心纸;电镀层;油漆层;金属薄膜和板材;发泡橡胶和发泡材料;碳化板;高密度纤维板。 测量过程针对不同的材料或不同的测试领域选用不同类型的传感器: 贝塔射线透射/背向散射、红外线、超声波、激光、X射线
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RESETO 6 G涂层测厚仪
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台式微聚焦XRF镀层测厚仪 - 五金电镀
组件或复杂配件,都能让您在几秒内轻松得到正确的结果。我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析,可分析
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菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪
界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。 FISCHERSCOPE
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菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,独有多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款应用广泛的能量色散
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DELTASCOPE MP10E便携式涂镀层测厚仪
技术参数:根据磁感应方法(DIN EN ISO 2178),采用微处理器控制的便携式涂镀层测厚仪。电源供电采用电池或可充式电池。插头式连接器可连接多达30种不同的探头。用于测量数据和文字显示的
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XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 (X-Strata980)
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器
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菲希尔XUL220型X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及
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