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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
,分布图等 表格视图依据形状,大小、直径,延伸率,圆度,粗糙度,以及/或凸面度来展现Mosaic图片视图连续不断地显示变化的实时图片 展示图形特点展示依据大小、形状等设定重新分布的图形 时间演化
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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恒温特沃德尔度测试仪
恒温特沃德尔度测试仪主要针对各种化工溶液的密度与波美度测量,恒温系统与密度测量系统溶于一体,可将液体直接恒温至20℃状态下;或者其它指定温度下液体密度与波美度,实现快速精准测量;恒温特沃德尔度
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ZJ-54D真空规
简单,量程较宽,响应较快,抗污染,耐氧化,漂移小,寿命长,性能稳定,价格适中等特点。特别适用于低真空测量。该型规管可以与ZJ-53B热偶规管互换使用。 真空规种类ZJ-54D真空规生产厂家成都睿宝
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Filmetrics 薄膜测厚仪 F54
Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪 优势桌面型膜厚测量仪的全球领导者24 小时电话、 Email、在线技术支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件
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ME54E分析天平
技术参数:含内部校准的天平型号ME54ME104ME204外部校准的天平型号ME54EME104EME204Ezui大称量值52g120g220g秤盘外形尺寸ø90mm可读性0.1mg重复性
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智能消解仪 XJS54-24
(℃)1控温精度(℃) ±1孔间均匀度(℃)±1.5样品处理量16x100ml36x50ml54x50ml20x100ml36x50ml消解孔径(D╳H)mmΦ44x50Φ31x50Φ31x50
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FLIR E54高级红外热像仪
FLIR E54是Exx系列的入门级热像仪产品,具有基础状况监控、电气/机械检测和建筑检修所需的分辨率和灵敏度。320 × 240像素红外探头可精确测量高达650℃的温度,能生成清晰生动
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