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DX 400 比表面积分析仪
比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器DX400比表面积分析仪,测试准确
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比表面测试仪
北京理工大学机械工程学院、材料学院知名教授合作的成果,2004年正式成立北京精微高博公司,专业致力于粉体材料积、孔径、孔隙度分析仪器的研究与制造,公司有资深的粉体材料研究专家,有资深的仪器仪表行业专家
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比表面测定仪
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BET比表面分析仪
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麦奇克拜尔BELSORP MAX G全自动比表面和孔隙分析仪
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高性能比表面积及微孔分析仪
高性能物理吸附仪属于研究级仪器,可测试材料的比表面积、总孔容、孔径分布和吸附脱附数据,尤其可对微孔材料的孔径分布给出更准确测试结果,适用于对研发、实验要求极高的科研单位和企业用户。
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比表面及微孔分析仪JW-BK132F
仪器简介: 由我公司自主研发的国内首台研究型、高性能静态容量法微孔分析仪JW-BK132F诞生于2010年,该款仪器完全继承了BK系列孔径分析仪的所有技术特点,核心硬件全部采用国际先进品牌,并
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高性能比表面积及微孔分析仪
高性能物理吸附仪属于研究级仪器,可测试材料的比表面积、总孔容、孔径分布和吸附脱附数据,尤其可对微孔材料的孔径分布给出更准确测试结果,适用于对研发、实验要求极高的科研单位和企业用户。
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TB系列 比表面积及孔径 同步分析仪
概述TB系列比表面积及孔径分析仪,是北京精微高博科学技术有限公司最新推出的表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的仪器。该仪器采用最常用、最可靠的静态容量法气体吸附法分析材料的吸附行为。测试过程中多个
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BSD-PS 比表面积及孔径分析仪
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