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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
F3-sX 系列薄膜厚度测量仪满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统 F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测大厚度达3毫米。此类厚膜,相较于较
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F54-XYT-300薄膜厚度测量仪
F54-XYT-300 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XYT-300先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪
F54-XY-200 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XY-200先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提
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薄膜拉伸试验机
薄膜拉伸试验机 想购买薄膜拉伸试验机?查看最新的薄膜拉伸试验机价格一览表,了解2023年新款薄膜拉伸试验机的报价,为您的购买决策提供参考。薄膜拉伸试验机广泛用于金属
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薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统
薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统 ■ 光谱测量范围:200-1100nm ■ 测量重复性:≤3%(主要波长位置) ■ 光源:高稳定、高输出能量
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ATGX310系列_光学薄膜厚度测量仪
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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薄膜介电常数测试仪
接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料 电极类型:固定电极-测量电极φ38mm 测试频率:20HZ-5MHZ 测试电极:黄铜电极 测试环境:室温
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薄膜电弱点测试仪
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薄膜电弱点测试仪
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薄膜电弱点测定仪
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