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PROFILE ICP测定二次盐水痕量杂质
ICP 二次盐水由于高浓度NaCl的影响,准确测定二次盐水中的痕量杂质只能使用标准加入法。下面的方法主要针对Leeman Labs公司的Profile,Profile Plus垂直型ICP-AES。
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Ultimate Polar-RP 分离4甲基咪唑及其杂质
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来源:月旭科技(上海)股份有限公司 应用
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Ultimate XB-C18瑞戈非尼测定报告
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Ultimate XB-Phenyl测定瑞戈非尼有关物质
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AKF-CAS6卡尔费休水分滴定仪测定磷酸铁锂中的水分
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液芯光纤中CCl4 的拉曼光谱分析
来源:L120623 资料
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利曼Prodigy直流电弧光谱仪 (DC Arc) 测定高纯铜中硫等痕量元素
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Ultimate Cellu-D 分离非奈利酮杂质6消旋体
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Topsil SiO2福辛普利钠测试报告
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药物杂质鉴定新流程 — Q Exactive Focus结合Compound Discoverer实现泮托拉唑杂质谱分析
来源:赛默飞色谱与质谱分析 应用
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