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马尔文帕纳科纳米粒度电位仪Zetasizer Pro
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马尔文帕纳科 2830 ZT 晶圆分析仪
2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计,该仪器可为多种晶片(厚达 300
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马尔文帕纳科激光粒度仪Mastersizer 3000
马尔文仪器于2011年全新发布的Mastersizer 3000超高速智能粒度分析仪及其分散系统的创新设计和革新工艺zei大程度体现了马尔文公司的热诚和专业。我们根据市场需求开发了在zei小的
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马尔文帕纳科台式X射线荧光光谱仪 Epsilon 4
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X'Pert³ MRD
具有在半导体和薄膜应用中的特殊优势,该探测器具备完整的多功能性,允许实现高动态范围的测量,而无需进行光束衰减。PIXcel 探测器可用于各类应用需求,可以轻松地将它从 0D 接收狭缝模式切换为 1
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Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪
超高速度和超高通量专用于金属工业关键过程分析从 1994 年飞利浦第一代多道同时式 X 射线荧光光谱仪 PW2600诞生以来,马尔文帕纳科的多道 XRF 已经历了 4 代产品更迭,而不变的是其优异的
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马尔文帕纳科 MicroCal PEAQ-DSC
MicroCal PEAQ-DSC 提供灵敏度高、易于使用的微量热法,帮助减少与稳定性试验和相似性分析相关的时间和成本。 MicroCal PEAQ-DSC 为配备清洁设备的手动仪器,可根据
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马尔文帕纳科NanoSight Pro纳米颗粒跟踪分析仪
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Empyrean 锐影 Alpha 1
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马尔文帕纳科Spraytec喷雾粒度分析仪
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