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美国Colloidal Dynamics高浓度Zeta电位分析仪
技术参数:1.可测量Zeta电位、动态迁移率、电导率、PH、温度、等电点(IEP)。 2.允许样品浓度:0.5~60%(体积百分数) 3.样品体积:20-250ml 4.测量Zeta电位的胶粒粒
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美国Rudolph折光仪J257
技术参数:﹡测量范围: 1.26-1.70RI,0-100Brix﹡测量精度: 0.00001RI, 0.01Brix﹡测量准确度:±0.0001RI,±0.1Brix﹡测量波长:589.3nm
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Microtrac麦奇克S3500激光粒度分析仪
技术参数:﹡测量范围:0.01μm-2,800μm; 测量精度:0.6%; 测量时间:10-30 秒; 所需样品量:0.05-2g;﹡兼容性:与任何常用有机溶剂兼容﹡光源: 三束3mW
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美国鲁道夫Autopol III旋光仪
技术参数:测量模式:旋光度、比旋度、浓度、国际糖度﹡ 测量范围: 旋光度±89.99°Arc ,比旋度±999.99°Arc,浓度0-99.9%﹡ 测量精度: 0.001°Arc(0.0001
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MicrotracBEL全自动化学吸附仪BELCAT II
技 术 指 标测试原理动态流动学原理内部保温zei高到150℃ 热导池采用高灵敏度的四丝热导池钨-铼热丝或镀金钨热丝灵敏度高/低灵敏度可切换精度1μV 气体进气口载气3路预处理8路脉冲8路
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Microtrac纳米粒度及Zeta电位分析仪Nanotrac wave II
技术参数:粒度分析范围:0.3nm-10μm重现性:误差≤1%Zeta电位测量范围:-200mV~200mV电导率:0-200ms/cm浓度范围:100ppb-40%w/v检测角度:180°分析
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Rudolph 高精度旋光仪 AUTOPOL V plus
及日期、温度校正及数据统计等。打印格式可由用户设定。4、统计数据功能:可以对任意一批测试结果(zei多999个测试值)进行取平均、标准偏差的计算,并记录zei大、zei小读值。技术参数:测量范围
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美国鲁道夫J457折光仪
、 统计数据功能:可以对任意一批测试结果(zei多999个测试值)进行取平均、标准偏差的计算,并记录zei大、zei小读值。 技术指标: J457 测量模式: 折光指数 (nD), 糖度
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麦奇克 S3500SI 激光粒度粒形分析仪
)操作软件:提供强大的数据处理能力,包括图形,数据输出/输入,个性化输出报告及各种文字处理功能,数据的完整性符合21 CFR PART11安全要求。大昌华嘉商业(中国)有限公司(DKSH)作为麦奇克
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Trace Elemental Inst总有机碳分析仪XPERT-TOC/TNb
分辨率:0.0001准确度:RSD《1%重现性:RSD《1%检测限:3ppb测量范围:0~35000检测原理:非色散红外吸收法(NDIR)氧化方法:高温催化燃烧氧化 XPERT-TOC/TNb
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