-
JCM-6000plus NeoScope 台式扫描电子显微镜
新的操作屏幕和触控屏带来了方便的操作体验,使用起来非常直观。此外,JCM-6000plus标准配置了低真空模式,还可以安装EDS等附件,是一款功能丰富的台式扫描电子显微镜。
-
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达
-
JEM-1000 超高压透射电子显微镜
为全球的高校和科研机构所使用的超高压透射电子显微镜(加速电压为1,000kV)。三维观察和原位观察实验由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使增大物镜极靴之间的间隙,也能获得高分辨率的
-
SightSKY Camera 光纤耦合CMOS相机
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰,可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率(58 fps/全像素模式)设计使其在动态观察过程中原位采集图像。“SightX”摄像系统控制
-
IB-19530CP截面样品制备装置
IB-19530CP 截面样品制备装置为了满足市场多样化的需求,IB-19530CP截面抛光仪采用多用途样品台,通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。产品特点:为了满足市场多样化的需求
-
JMS-MT3010HRGA INFITOF 飞行时间质谱仪
。在科研领域的zei前沿,对微量气体成分的现场原位分析的需求越来越高,日本电子为满足科研人员这一愿望而推出的JMS-MT3010HRGA,采用了zei新的Multi-Turn技术,不仅体积紧凑,而且能
-
JEBG系列大功率电子枪
JEBG系列大功率电子枪/电源JEBG系列大功率电子枪是在真空中蒸发或熔解金属及氧化物的大功率电子束发生源,能在不断输送中的宽幅塑料和大面积玻璃基板上高速率地连续镀膜,此外在电子束熔炼时,可用于高熔点
-
日本电子DART 实时直接分析离子源
DART 实时直接分析离子源DART(Direct Analysis in Real Time即时直接分析)是无需样品制备的、能进行快速分析的新型离子源。 DART于2003年诞生于日本电子美国
-
JSM-IT210 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
-
JIB-4700F聚焦离子束双束(FIB
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net