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日本电子JSM-7800FPRIME 热场发射扫描电子显微镜
样品移动范围X:70mm, Y:50mm Z: 2mm to 25mm 倾斜-5 ~ +70° 旋转360°主要选配件能谱仪(EDS)波谱仪(WDS)电子背散射衍射系统(EBSD)阴极荧光
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JEOL JEM-Z300FSC(CRYO ARM 300) 冷冻透射电镜TEM
交换系统,能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内zei多可以存储12个样品,可以任意取出和交换一个或数个样品,能灵活地进行测试排序。 场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC
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JCM-7000系列NeoScope 台式扫描电子显微镜
直接放大 x10至100,00的放大倍数定义为128 mm x 96 mm显示倍率 x24至202,168的放大倍数定义为280 mm x 210 mm模式 高真空模式:二次电子图像,反向散射电子
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JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
JSM-IT510系列有下面4种配置BU(基本单元)基本类型, 高真空条件下观察A(分析型)分析型,标配EDS能谱LV(低真空型)低真空型,适用于高、低真空操作,配置BEDLA(低真空分析型
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日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜
1pA—1uA 放大倍数:5 ---- 300,000倍 通用型扫描电子显微镜JSM-6510系列,采用了热电子枪,内有标准菜单能满足用户的多样化需求,丰富的选配件如Cryo系统等能进一步扩大应用
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日本电子JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统
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JEM-F200冷场发射透射电镜
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日本电子JSM-7900F热场发射扫描电子显微镜
)高位检测器(UED)、低位检测器(LED)电子枪浸没式肖特基Plus场发射电子枪zei佳光阑角控制镜内置物镜超级混合式物镜/SHL自动功能自动聚焦、自动消像散、自动调节亮度、自动调节衬度大景深模式
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日本电子JMS-T100LP液相色谱-飞行时间质谱仪
in Real Time)敞开式质谱分析的先锋-JEOL 本机安装DART 离子源(选配项)后,无需对各种形态,状态的样品进行预处理就能直接进行分析。DART 于2003 年诞生于日本电子的美国
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日本电子JXA-8230 电子探针显微分析仪
X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC
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