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120kV高衬度透射电子显微镜_JEM-1400
120kV高衬度透射电子显微镜_JEM-1400 仪器描述 主要特点 主要参数透射电子显微镜 JEM-1400
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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300kV场发射透射电子显微镜 JEM-3100F
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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JSM-6510A / JSM-6510LA 扫描电镜样本(日本电子)
来源:hongjingzi 资料
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无球差原位观察
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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无球差原位观察
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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JEOL 透射电镜断层三维重构系统
透射电镜通常获取的是二维投影像,目前通过连续倾斜获得一系列图像后重构三维信息是一种发展趋势。日本电子在这一方面有不少产品可供提供。
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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扫描电镜和离子研磨仪在电子器件失效分析中的应用案例
来源:复纳科学仪器(上海)有限公司 相关产品:飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Nano 应用
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JEOL透射电镜相位板最新技术进展
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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氩离子截面抛光应用讲座1-块状样品的制备
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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扫描电子显微镜在陶瓷材料中的应用.pdf
来源:电子 资料
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