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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 大范围的加速电压设置
产品特点:强大的冷场发射电子枪HyperCF300标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。两种物镜极靴为了支持用户广泛的需求,研发了两种各具特点的物镜极靴。丰富的
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日本电子JEM-F200自动进样透射电镜 皮米样品台驱动
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日本电子JEM-1000 超高压透射电子显微镜 三维观察
典型规格*1[分辨率]STEM2.0 nm (1000 kV)TEM (晶格, 点)0.16 nm (点, 1000 kV)0.10 nm (晶格, 1000 kV)[放大倍率]STEMx
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日本电子JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜 束斑更小、电流密度更大的电子束
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日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 小鼠大脑
应用数据 小鼠大脑 突触细分数据黄色区域:突触囊泡绿化面积:突触后部增厚部分红色区域:突触后部样品: 承蒙瑞典隆德大学医学系生物成像中心的Deniz Kirik 和 Lina Gefors教授产品规格
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日本电子JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜 远程操作
◇ 操作简单● 即使TEM的操作经验少也能直接操作设备 · 大量减少使用操作盘,直接按顺序点击显示画面上的按钮就能得到最终的图像 · 也可以用鼠标来进行调焦等操作 · 可以兼容GATAN
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日本电子JSM-IT200 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
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日本电子JMS-T100LP 液相色谱-飞行时间质谱仪 可以自动导入内标物
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日本电子IB-19530CP截面样品制备装置 平面刻蚀
产品特点:为了满足市场多样化的需求,IB-19530CP截面抛光仪采用多用途样品台,通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座,不仅能截面刻蚀,还可以进行平面刻蚀
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日本电子JXA-iSP100 电子探针显微分析仪
电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域,作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用,其用途越来越广。此外,在学术领域 ,地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用,矿物等资源
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