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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
(能谱仪)、EELS(电子能量损失谱仪)、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。大范围的加速电压设置标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV到300kV,使用范围极广
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SXES软X射线分析谱仪
软X射线分析谱仪软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。 和EDS
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JED-2300/2300F 能谱仪
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RF-120系列高频电源
RF-120系列高频电源是溅射、刻蚀、CVD、离子镀等薄膜制备/加工使用的、用于生成等离子体的13.56MHz高频电源(RF电源)。特性:A high-frequency power supply
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JIB-4700F 双束加工观察系统
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EM-09100IS 离子切片仪
EM-09100IS 离子切片仪用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度(0°到6°)的氩
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JSM-IT700HR InTouchScope™ 热场发射扫描电子镜
最高分辨率1nm、最大探针电流300nA(之前的15倍),可提供丰富的观测和分析信息,用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。
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JEOL JEM-2200FS 200kV能量过滤场发射透射电镜
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BS/JEBG/EBG 系列电子束蒸镀用电子枪
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TP-99010FDR 粉末供应装置(材料生成
TP-99010FDR 粉末供应装置用气体通过管道定量输送粉末的送粉器。 该台式送粉器能稳定地供给亚微米~100μm左右的微细颗粒。 通过载气输送微细粉末。 还能够输送有着高聚集特性的1μm~纳米尺寸
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