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JMS-MT3010HRGA INFITOF 飞行时间质谱仪
。在科研领域的zei前沿,对微量气体成分的现场原位分析的需求越来越高,日本电子为满足科研人员这一愿望而推出的JMS-MT3010HRGA,采用了zei新的Multi-Turn技术,不仅体积紧凑,而且能
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JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起,实现了高度稳定性和高分辨率,以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单,按照该菜单,操作人员即使不直接操作设备
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IB-19530CP截面样品制备装置
IB-19530CP 截面样品制备装置为了满足市场多样化的需求,IB-19530CP截面抛光仪采用多用途样品台,通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。产品特点:为了满足市场多样化的需求
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JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜
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BS/JEBG/EBG 系列电子束蒸镀用电子枪
BS/JEBG/EBG 系列电子枪用于光学薄膜及电极膜等各种薄膜形成的电子束蒸镀用电子枪/电源。产品特点:用于光学薄膜及电极膜等各种薄膜形成的电子束蒸镀用电子枪/电源。电子束蒸镀法的特征用电子束直接
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SXES软X射线分析谱仪
软X射线分析谱仪软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。 和EDS
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JEM-1400 Plus 120kV高衬度透射电子显微镜
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JBX-6300FS 电子束光刻系统
场边角、场边界处进行高精度地描画。该系统采用了19位DAC和样品台控制精度为0.6nm的激光干渉仪,实现了业界zei高水准的位置精度、拼接、套刻精度(±9nm)。 可用于位置精度要求很高的光子器件
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JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜
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JSM-IT210 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
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