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Surfix basic S统计型测厚仪 膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合Surfix basic S可换探头统计型测厚仪 膜厚仪根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
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一六 XAU专业性能型膜厚仪
全面升级下照式探测器款,多模态人机交互,搭载先进的EFP算法软件同时升级成新一代微纳米芯片及元器件,在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定。高性能探测器:搭配高性能探测器,在检测
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X射线荧光膜厚仪XTU-40
产品简介: 微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测 变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行检测
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膜厚光谱分析仪系统
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Filmetrics 膜厚测量仪 F37
Filmetrics膜厚测量仪 优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系
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紧凑型高精度反射膜厚仪
技术参数型号SR-CVSR-CN基本功能获取薄膜厚度值以及R、N/K等光谱光谱波长范围380-800nm650-1100nm测量厚度范围50nm-20um100nm-200um测量时间
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F50 光学膜厚测量仪
使用寿命长的移动平台,确保能够做成千上万次测量。系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上
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米粒透视器TX-200日本KETT
●规格TX-200适用样品精米、糙米光源4W荧光灯(ZLP-701)使用温度范围10~40℃保管温度范围0~40℃电源电池1.5V(5#碱性)×4 或 AC100V(50/60Hz)输出
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白米鲜度仪RN-820日本KETT
方式扫描pH试剂浸泡过的白米影像,利用专用软件「鮮度マイスター」进行图像处理,从而进行白米的鲜度判定判定对象精米判定时间72粒/约10分钟判定结果按照日本谷物检定协会的新鲜度判定基准区分等级;用户可以
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数显测厚计
T0008数显测厚计,这款仪器特别用于测试制鞋材料的厚度。此款仪器压头直径为10mm,压力为1N,符合澳洲/新西兰对于制鞋皮革类材料测厚的标准要求。 应用:? 制鞋业 产品特点:? 压头压力
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