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日立分析:直读光谱引领铸造业品质发展
2021-02-02来源: -
SEM,STM,AFM在应用上的区别
SEM是扫描电镜,所加电压比较低,只是扫描用的,相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜,所加电压高,可以打透样品,AFM一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
2021-11-18来源: 互联网 -
AFM的电学性能测试
2021-06-08来源: 互联网 -
2024 Park AFM第一批奖学金获奖名单公布
2024-05-14来源: Park -
扫描探针显微镜控制器
2021-08-08来源: 网络 -
扫描热探针刻写技术-综述
2020-06-02来源: QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司 -
扫描探针显微镜八大种类及各自原理介绍
2019-12-12来源: 互联网 -
创新科技引领未来 日立仪器新品亮相进博会
2020-11-10来源: -
AFM网络讲堂系列(1):石墨烯包覆纳米探针——获得高可靠性、长寿命导电探针的新途径
2019-12-18来源: Park帕克原子力显微镜 -
afm影响因子是什么
2022-04-05来源: 互联网
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