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日立 SFT-110 X射线荧光镀层厚度测量仪
测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi)检测器:比例计数管X射线源:空冷式小型X射线管(50kV、1mA)准直器:O型:Φ0.1mm、Φ0.2mm样品观察: CCD摄像头(可广域观察)样品
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X射线测硫仪
17040-2008《石油产品硫含量测定法(能量色散X射线荧光光谱法)》和GB/T 11140-1989《石油产品硫含量测定法(X射线光谱法)》的相关要求,同时完全符合美国国家标准
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日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
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日立 FT9500系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器,在测量镀层厚度的同时,也能对RoHS
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日立 EA1200VX 能量色散型X射线荧光仪
型号名称:EA1200VX 可测量元素:原子序数11(Na))~92(U) 样品形态:固体、粉末、液体 X射线源:小型空冷式X射线管球(Rh靶) 管电压:15kV
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日立 FT9300系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
技术参数:可测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi) X射线源:小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶) 管电压: 50kV 管电流: 1.5mA
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浪声台式x荧光镀层测厚仪 涂层镍层测厚 ScopeX COAT1
)。 完善的安全防护在测量过程中,仪器左右两侧辐射指示灯自动呼吸闪烁,内置DoubleBeam™ 技术自动感知仪器前方有无样品,提高射线的安全性和防护等级。 准确可靠的定性定量方法集成了浪声前沿的
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X射线荧光仪GOLDSCOPE
特点紧凑且耐用的台式仪器,采用X射线荧光法进行无损的材料分析硬件和软件都是针对黄金和贵金属分析进行优化的样品放置简便,采用了宽敞的测量舱和自下往上的测量方向符合标准EN 61010, DIN ISO
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数显测厚计
T0008数显测厚计,这款仪器特别用于测试制鞋材料的厚度。此款仪器压头直径为10mm,压力为1N,符合澳洲/新西兰对于制鞋皮革类材料测厚的标准要求。 应用:? 制鞋业 产品特点:? 压头压力
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电镀用X射线荧光分析
特点根据DIN ISO 3497和ASTM B 568,用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度XULM的最小测量点约0.1 mm;XUL最小测量点约0.5 mm钨X射线管或钨微聚焦管(XULM
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