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QCM200石英晶体微天平
)。晶体微天平利用石英晶体谐振器的压电特性,将石英晶振电极表面质量变化转化为振荡电路中电信号和频率变化,进而获得高精度数据。测量精度在纳克级, 要比电子天平高出100 倍。 对于一般科研实验来说
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牛津仪器Ultim Max硅漂移型探测器 大面积晶体
Ultim Max是新一代硅漂移型探测器(SDD),配有大面积晶体和低噪音电子元器件,分析速度和探测灵敏性都有大幅提升。最大晶体有效面积170mm2,极大提高探测器灵敏度可在400,000
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紫外安捷伦Agilent 全能型分光光度计 (UMS) 应用于高分子材料
安捷伦紫外Cary 7000用于测定晶体材料,符合行业标准。适用二色性项目。 多色性是一种透明晶体从不同角度观察会产生不同颜色的光学现象。有时颜色的变化仅限于阴影的变化,如从浅粉色变成深粉色。晶体
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Cary 7000紫外安捷伦 适用于二色性
产生不同颜色的光学现象。有时颜色的变化仅限于阴影的变化,如从浅粉色变成深粉色。晶体可分为光学各向异性(立方晶体体系)、光学各向异性单轴(六角、三角晶体体系)和光学各项异性双轴(斜方、单斜、三斜晶体体系
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Agilent 全能型分光光度计 (UMS)安捷伦Cary 7000 应用于电子/半导体
安捷伦紫外Cary 7000可以用在电子/半导体行业领域,用来检测晶体材料,可完成二色性项目。符合多项行业标准。 多色性是一种透明晶体从不同角度观察会产生不同颜色的光学现象。有时颜色的变化仅限于阴影
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安捷伦Cary 7000紫外 使用分光光度法研究晶体材料的二色性
安捷伦紫外Cary 7000可用于测定晶体材料,适用于二色性项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 多色性是一种透明晶体从不同角度观察会产生不同颜色的光学现象。有时颜色的变化仅限于
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通用型硅晶体日照强度计,哈希SP-lite日照强度计
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理学 Ultima IV 全自动多功能X射线衍射仪 晶体结构测定
X射线衍射仪主要是用于测定晶体结构,根据晶体结构来判断矿物种类,根据衍射峰的强弱来判断物相含量的高低。多晶X射线衍射仪也称为粉末衍射仪,被测对象通常为粉末、多晶体金属或高聚物等块体材料。仪器简介
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瑞士梅特勒托利多热台和DSC热台-显微镜系统,热分析仪
显微热台广泛用于图象表征各种热转变过程,能够直接观察晶体或液晶样品在加热或冷却过程中的晶态变化以及结晶过程中形状、结构、颜色以及大小和数量的变化。FP82显微热台测量放置于玻璃片
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晶体溶液恒温加热箱
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