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BSD-PS 比表面积及孔径分析仪
; ◆ IAST理论; 测试报告 Testing Report: BSD-PS6型比表面积及孔径分析仪,具有6个样品预处理脱气站,6个样品分析站。测试精度高、重现性好
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BSD-PS全自动静态容量法比表面仪
BSD-PSA2型全自动静态容量法比表面仪,具有2个样品预处理脱气站,2个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1.5%。测试范围:比表面0.0005m2/g以上.样品类型:粉末
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PS-9000便携式土壤碳通量自动测量系统
技术指标:PS-9000控制系统:测量原理:非色散红外测量范围:CO2 : 0-6000 ppm, H2O : 0-60000 ppm准确度:
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800nm色散补偿光栅对脉冲展宽器PS-800
)可根据客户的需求,将PS-800预先调整好光纤长度在1.5米至5米之间的色散补偿。更多产品:1、太赫兹光电导天线2、飞秒光纤激光器800nm色散补偿光栅对包含两个透射光栅,用于在800nm波长处的
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A2PS光学M2喷雾喷洒液滴激光探针
参数粒度仪(激光粒度仪,液滴粒度仪,喷雾检测仪,喷雾粒度分析仪)可测5微米以上液滴粒度仪(激光粒度仪,液滴粒度仪,喷雾检测仪,喷雾粒度分析仪)可测最大速度为80m/s粒度仪(激光粒度仪,液滴粒度
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Nanovea PS50非接触3D光学轮廓仪
、砂纸、岩石等。 PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试。PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面
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连续型高精度ICP发光分光分析装置 PS3500DDⅡ
型号名称PS3510DDⅡPS3520DDⅡPS3520VDDⅡPS3520UVDDⅡ分光器数1ch2ch2ch2ch分光器内气体净化净化真空真空载片方式切尔尼-特纳(Czerny-Turner
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贝士德比表面及孔径分析仪BSD-PS
BSD-PS系列比表面及孔径分析仪---性能参数测试原理:在低温(如:液氮浴,77.3K)条件下,向样品管内通入一定量的吸附质气体(如:N2),通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压,通过
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CO2低温液化系统 厂商
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3H-2000PS4型比表面及孔径分析仪
测试精度: 测试精度高、重现性好。重复性误差小于±2%; 测试范围:比表面0.01m2/g以上,孔径0.35-400nm;样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。 P0测试
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