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赛默飞H2PGA0202011 用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: H2PGA0202011旨在极大限度地提高生产率和运行时间加热样品隔板确保样品完全转移双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的
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赛默飞CL2GAS000001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: CL2GAS000001旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞CL2GAS000001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: CL2GAS000001旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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赛默飞H2PGA0202011 用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: H2PGA0202011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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安捷伦7900ICP-MS 适用于超痕量元素杂质
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Agilent 质谱仪 安捷伦7850 ICP-MS 适用于痕量元素
安捷伦ICP-MS7850 ICP-MS用于测定水,符合行业标准ISO 17294-2。适用痕量元素项目。 Agilent 7850 ICP-MS 智能工具简化日常水质分析工作流程 使用
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SH-LA200液相色谱-原子荧光形态分析仪
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安捷伦MPT4210 MP-AES 4200 微波等离子体原子发射光谱仪 (MP-AES) 测定米粉中的常量、微量和痕量元素
安捷伦Agilent 4210 MP-AES适用于常量、微量和痕量元素项目,参考多项行业标准。可以检测米粉等样品。可应用于多个行业领域。 在典型的多元素分析中,Agilent 4210
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系列 ICP-OESICP-AES赛默飞 适用于16种常量元素与微痕量元素
赛默飞 系列 ICP-OESiCAP 7000 Plus可用于测定紫菜 ,扇贝,大虾,适用于16种常量元素与微痕量元素项目。并且参考多项行业标准GB 5009.268-2016。可应用于水产加工品
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岛津电子探针电子探针EPMA 适用于痕量元素
岛津电子探针EPMA-1720系列参考多项行业标准/ VBA。完成非金属矿产 的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的痕量元素 项目。 独居石是一种较为常见的副矿物,可以进行地质定年。以独居石为
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