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半导体表面粗糙度测量无超高精度和最小化探针针尖变量的亚埃级表面粗糙度测量晶圆的表面粗糙度对于确定半导体器件的性能是至关重要的。对于最先进的元件制造商,芯片制造商和晶圆供应商都要求对晶圆上超平坦表面进行更精确的粗糙度控制
来源:Park帕克原子力显微镜
相关产品:帕克 NX-Wafer 原子力显微镜
应用
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烤肉烤肉中5种杂环胺类物质的分析方法烤肉中5种杂环胺类物质的分析方法本实验重现了GB5009.243-2016烤肉中杂环胺类物质的测定,采用Cleanert® PS小柱结合液相色谱串联质谱(LC-MS/MS)对烤肉中的5种杂环胺类物质
来源:艾杰尔-飞诺美(Agela & Phenomenex)
应用
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烤鱼烤鱼中5种杂环胺类物质的分析方法烤鱼中5种杂环胺类物质的分析方法本实验重现了GB5009.243-2016烤鱼中杂环胺类物质的测定,采用Cleanert® PS小柱结合液相色谱串联质谱(LC-MS/MS)对烤鱼中的5种杂环胺类物质
来源:艾杰尔-飞诺美(Agela & Phenomenex)
应用
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本手册共有32页,详细说明了原子力显微镜样品的制备流程。本手册为大家提供免费学习教程,旨在为使用原子力显微镜的研究人员或即将使用原子力显微镜的研究者们提供更有效的样品制备使用说明。 原子力显微镜以其较强的原子和纳米尺度上的分析加工能力,在纳米科学技术的发展中占据及其重要的位置,其测量结果会根据样品制备方式,AFM机台选择或者测量方法而发生巨大的变化。
来源:Park帕克原子力显微镜
资料
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,其中一些为非实时下的,一些通常需要高真空,而另一些则由于其耗时的图像采集而不适用于监测不断变化的过程。[2,5] 为了克服这些缺点,电化学结合原子力显微镜(通常称为EC-AFM)被引入进来。 这种技术允许用户进行实时成像和样品表面形貌变化
来源:Park帕克原子力显微镜
相关产品:帕克 NX10 原子力显微镜
应用
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摘要: 通过用火焰原子吸收分光光度法与二氮杂菲分光光度法, 两种方法对水体中总铁进行测定, 进行了对比。通过与国家标准物质中心配制值对比, 原子吸收分光光度法测定值绝对误差为0.01mg/L, 相对误差为2.0%, 最低检测限为0.006 mg/L; 二氮杂菲分光光度法测定值绝对误差为0.02mg/L, 相对误差为4.0%, 最低检测限为0.05mg/L。
来源:F20090330
资料
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摘要:目的 比较原子吸收分光光度法与二氮杂菲分光光度法测定水中总铁的差异。方法 在21份不同类型的水质中分别用两种方法进行分析测定,比较其测定结果,方法的回收率,准确度和精密度。 结果 21份水样用二种方法测定结果经配对t检验,结果差异无
来源:F20090330
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材料高精度纳米测量无 无扫描器弓形弯曲的平直正交XY轴扫描 Park的串扰消除技术不仅改善了扫描器弓形弯曲的缺点,还能够在不同扫描位置,扫描速率和扫描尺寸条件 下进行平直正交XY轴扫描。即使最平坦的样品也不会出现如光学平面,各种偏移扫描等曲率的背景。由此为 顾客在研究中遇到的所有极具挑战性的问题提供
来源:Park帕克原子力显微镜
相关产品:帕克 FX40原子力显微镜
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无机-有机杂化材料控制合成、结构调控与性能研究
来源:古灵
资料
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半导体表面测量无无扫描器弓形弯曲的平直正交XY轴扫描 Park的串扰消除技术不仅改善了扫描器弓形弯曲的缺点,还能够在不同扫描位置,扫描速率和扫描尺寸条件 下进行平直正交XY轴扫描。即使最平坦的样品也不会出现如光学平面,各种偏移扫描等曲率的背景。由此为顾 客在研究中遇到的所有极具挑战性的问题提供高精度
来源:Park帕克原子力显微镜
相关产品:帕克 NX10 原子力显微镜
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