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拉曼光谱表征无定形硅和微晶硅
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改进半导体制造,海洋光学为晶圆蚀刻提供全光谱等离子监测解决方案
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气相色谱-质谱法分析油杉枝精油的化学成分
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硅薄膜晶化率的拉曼检测分析
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研究不同氢键供体形成的氯化胆碱基 深共晶溶剂溶剂化相互作用的变化
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水合物析晶质量计算器(自编软件)
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Ultimate XB-C8 Welchrom C8 测定苹果酸和苹果酸转晶
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Ultimate Polar-RP 测定复方一枝黄花喷雾剂中的绿原酸含量
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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
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Adscientis反气相色谱表征不同类型乳糖(原料,微晶化,处理过)表面特性
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