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精研一体机扫描电镜EM TXP
徕卡EMTXP标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,可用于锯、磨、铣削、抛光样品,供扫描电镜、透射电镜和LM技术检测。该系统配备一体化体视镜,可用于定位和观察较细微难以观察的目标位置进行样品处理;使用
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精研一体机扫描电镜EM TXP
徕卡EMTXP标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,可用于锯、磨、铣削、抛光样品,以供扫描电镜、透射电镜和LM技术检测。该系统配备一体化体视镜,用于观察样品处理过程中的定位和细微目标位置。样品旋转
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创诚致佳精研一体机EM TXP
徕卡EMTXP标靶面制备系统有定点修块抛光功能,适用于锯、磨、铣削、抛光样品后,供扫描电镜、透射电镜和LM技术检测。该系统带有一体化体视镜,可用于观察定位和处理细微难以观察的目标位置;使用样品旋转
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精研一体机EM TXP创诚致佳
徕卡EMTXP标靶面制备系统具有定点修块抛光功能。操作时,可使用锯、磨、铣削等工具对样品进行处理,之后可用于扫描电镜、透射电镜和LM技术检测。该系统配备一体化体视镜,可用于观察并定位难以观察的细微
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创诚致佳扫描电镜EM TXP
徕卡EMTXP标靶面制备系统具有定点修块抛光功能。它可以用于锯、磨、铣削和抛光样品,以便进行扫描电镜、透射电镜和LM技术检测。系统带有一体化体视镜,用于观察和定位细微、难以观察的目标位置,并且可以
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精研一体机
徕卡EM TXP 标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,是用锯,磨,铣削,抛光样品后,供扫描电镜,透射电镜,和LM技术检测。带有一体化体视镜,用于*定位及对较细微难以观察的目标位置进行样品处理时观察
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精研一体机
徕卡EM TXP 标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,是用锯,磨,铣削,抛光样品后,供扫描电镜,透射电镜,和LM技术检测。带有一体化体视镜,用于*定位及对较细微难以观察的目标位置进行样品处理时观察
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工业3D自动扫描测量仪SED500
DMM动态姿态追踪软件技术参数: 同一时间可追踪和记录目标靶数量72个,同一时间可追踪和记录刚性物体数量24个可测量应用: 振动、路径、速度、加速度、定位、位移量、方向、变形量、角度
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徕卡Leica EM TIC 3X 切割机 用Leica EM TIC3X三离子束切割仪解剖太阳能电池
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Leica EM TIC 3X 德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X徕卡 可检测太阳能电池
TXP 产生协同效应在使用 Leica EM TIC 3X 之前,通常需要进行机械准备工作,以便尽可能接近感兴趣区域。Leica EM TXP 是一种独特的标靶面抛光系统,开发用于样品的切割和抛光,为
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