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ChemFIA CAS-400 自动进样器
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X39;Pert³ MRD XL
马尔文帕纳科新一代 X39;Pert³ MRD XL 高分辨X射线衍射仪其可靠性的增强及性能的改进提高了分析能力,提供一体化解决方案来满足不同需求和应用:半导体和单晶晶圆:倒易空间探索
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
1、 执行国家标准GB/T511-2010。广泛适用于石油、化工、冶金、电力、交通、商检及科研等部门。2、 核心主机采用TI 公司AM3354处理器,Cortex-A8内核,1GHz主频
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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MSK-VA53可防爆真空储存箱(53L)
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相干拉曼散射显微镜 STELLARIS 8 CRS
当您需要研究传统荧光显微成像方法无法成像的结构时,通过STELLARIS 8 CRS相干拉曼散射显微镜,您可以在工作流程中实现无标记化学成像,应对那些具有挑战性的研究问题。在STELLARIS
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MASTER-53M / MASTER-53PM刻度式手持折射仪
技术参数:型号MASTER-53MMASTER-53PM货号23532973标度范围Brix 0.0 至 53.0%最小标度Brix 0.5%尺寸重量3.2×3.4× 16.8公分, 130
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斯达沃手持式拉曼光谱仪Mira 型
手持式拉曼光谱仪Mira 介绍 一键触发功能可以直接透过包装检测粉末、颗粒或者液体样品~样品可装入样品瓶,置入Mira的内部进行检测,无需准备激光防护措施。~快速响应,无需对样品进行预处理
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