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安捷伦LC/MSD iQ液质 适用于痕量杂质
安捷伦液质LC/MSD iQ适用于痕量杂质项目,参考多项行业标准。可以检测品牌药和仿制等样品。可应用于制药/仿制药行业领域。 - 智能早期维护反馈系统能够自动追踪仪器状态,并预测何时需要进行
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赛默飞 IQLAAAGABHFAPBMBFJ UltiMate™ 3000 半制备系统 杂质纯化
值和电导率监测 (PCM-3000)馏分收集器 (AFC-3000)Chromeleon 7.2 软件包(独立、联网、远程数据处理和/或控制)推荐用途典型应用包括用于结构解析的副产物和杂质纯化,从
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1290 Infinity II HDR-DAD 杂质分析仪系统
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGA000010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: COCO20010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门、转头和传动装置加热样品隔板确保样品
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAOX010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAHE010013旨在极大限度地提高生产率和运行时间具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常
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Chromeleon® 变色龙色谱数据系统赛默飞 可检测水
水体,消灭劣 V 类等污染严重水体。 Chromeleon®变色龙色谱数据系统不仅遵循诸如GLP、GMP 、21CFR Part 11等规范的要求,且拥有丰富智能的功能,并已延伸至质谱领域
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