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附件的液体池上测量,会得到混合样品的谱图;然后测纯A的样品,得到纯A的谱图;从混和物的谱图中按比例减掉纯A的谱图,剩下的应该就是B的谱图了。
omnic软件里subtract命令可以实现,但是我操作之后,效果好像不对。
[[i] 本帖
2010年12月28日发布人:gruyclewee
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3σ 算法适合哪些数据分析呢?还有什么简单可靠的方法来算检测限?,检测限D=3N/S N为仪器噪声,要根据仪器噪声图测量,S为灵敏度,即标准曲线的斜率,我认为还是实际做出来的检出限最可靠,当进样产生的峰的信噪比大于等于3 ,就认为进样的
2009年02月26日发布人:ttkl533
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,捣碎,压片~~~,lz试过衰减全反射附件吗?对薄膜样品比较好用,不过最低波数范围是650cm-1。,楼主尝试漫反射或者是衰减全反射附件测量看看效果怎么样。,这位网友问的是要测定半导体薄膜的红外光谱图。红外光谱图测定通常有四法:1、压片法,2
2010年07月12日发布人:tiahhg
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是否被烧很可能测得的已经不是原样品的拉曼峰了。如果拉曼峰被激发出来了且颜料未被烧坏,则可以采用1%的能量,用长时间的测量来获得噪音比较低的光谱图。在测量无机样品时一般采用532的激光,也是10%的能量先测5秒一次。若为金属化合物的颜料则可以大胆的用10%能量
2015年03月21日发布人:xevin
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],[size=2]理论上,峰位只与激光的频率有关。如果一台傅立叶光谱仪的激光频率不变,峰的位置不应该发生变化。可以用标片测量并与以前的谱图比较。同时关注不同波数位置的变化。[/size],[size=2]这个只能请工程师来校正了[/size
2016年02月22日发布人:昙花花花
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拉曼峰了。如果拉曼峰被激发出来了且颜料未被烧坏,则可以采用1%的能量,用长时间的测量来获得噪音比较低的光谱图。在测量无机样品时一般采用532的激光,也是10%的能量先测5秒一次。若为金属化合物的颜料则可以大胆的用10%能量的不同激光去尝
2016年03月23日发布人:xiaoxiaoai
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近来我一直在做红外光谱分析,关于活性炭的,但是活性炭的红外谱图和纯溴化钾的谱图形状类似,做了多少遍了,结果还是一样,我的上司一直认为他的炭没问题,能做出和文献中相似或一样的谱图,所以他认为红外光谱仪有问题,和谱图硬是靠做出来的,和他的炭
2011年01月17日发布人:guanzhongming
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,因为物质熔化是相变过程,是要吸热的,差热曲线(DTA)能反映物质在加热过程中的吸热放热现象,不过要测定熔点是要结合热重曲线(TG)来判定熔化峰的,即物质在熔化过程中质量是不变的。,可以测量熔点,但是,此图 基线不稳,且吸热峰过宽,估计是物料不纯,所得熔点数据慎用。
2015年10月09日发布人:malong
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,因为物质熔化是相变过程,是要吸热的,差热曲线(DTA)能反映物质在加热过程中的吸热放热现象,不过要测定熔点是要结合热重曲线(TG)来判定熔化峰的,即物质在熔化过程中质量是不变的。,可以测量熔点,但是,此图 基线不稳,且吸热峰过宽,估计是物料不纯,所得熔点数据慎用。
2015年12月31日发布人:zouyou
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,因为物质熔化是相变过程,是要吸热的,差热曲线(DTA)能反映物质在加热过程中的吸热放热现象,不过要测定熔点是要结合热重曲线(TG)来判定熔化峰的,即物质在熔化过程中质量是不变的。,可以测量熔点,但是,此图 基线不稳,且吸热峰过宽,估计是物料不纯,所得熔点数据慎用。
2015年08月24日发布人:jishiben