-
Allied基材厚度测量仪 X-PREP® VISION™
FEATURESMultipoint scan or single-point thickness measurement10 microns to full thickness (1 mm
-
Filmetrics F3-XXT 薄膜厚度测量仪
测量厚度zei大到 3 毫米的先进薄膜厚度测量系统对于大多数的膜厚测试系统来说,当厚度大于 100 微米后都变得非常困难。那是因为他们是通过反射率振幅干涉的光谱频率来算薄膜的厚度, 会导致干涉
-
Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测最大厚度达3毫米。 F3-sX 系列薄膜厚度测量仪满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统F3-sX
-
FMP涂层测厚仪探头
选择正确探头中重要的依据是,涂镀层和基材的材料组成。 其它重要方面还包括涂层和基材厚度、测量面积尺寸以及被测样品的几何形状和表面特性。当然,FISCHER也会提供全面而专业的建议,帮助您选择
-
北京中瑞祥自动点胶机 型号:ZRX-28337
机型小巧、操作简捷、待机时间长等特点;且具有自动关机、欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能。它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。该仪器广泛应用于机械
-
X荧光光谱镀层测厚仪XU-100
分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度) 4)配备高精密微型移动滑轨,可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测 5)可同时分析23个镀层,24种元素,测量
-
HORIBA GD Profiler 2射频辉光放电光谱仪
1、射频发生器-标准配置、复合D级标准、稳定性高、溅射束斑极为平坦、等离子体稳定时间极短,表面信息无任何失真。2、脉冲工作模式既可以分析常规的涂/镀层和薄膜,也可以很好地分析热导性能差和热
-
CTG2300涂层测厚仪
-
Surfix PBN铁基基本型测厚仪
-
Surfix PBF铁基基本型测厚仪
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net