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X射线荧光镀层厚度测量SFT9500
X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想
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X射线荧光镀层厚度测量SFT9500
X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度
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库仑镀层测厚仪涂镀层及薄膜测厚仪创诚致佳
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库仑镀层测厚仪创诚致佳涂镀层及薄膜测厚仪
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涂镀层及薄膜测厚仪库仑镀层测厚仪创诚致佳
片1mm2üü密封片0.25mm2(涂镀层面积几乎小得看不见)ü电解杯0.25-16mm2(可选件)库仑镀层测厚仪测量参数*优化调整:除镀速度0.3-40μm/分钟可调üü根据金属和测量表面可直接调整
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创诚致佳涂镀层及薄膜测厚仪库仑镀层测厚仪
4mm2ü 密封片1mm2ü 密封片0.25mm2(涂镀层面积几乎小得看不见)ü 电解杯0.25-16mm2(可选件)库仑镀层测厚仪测量参数* 优化调整:除镀速度0.3-40μm/分钟可调
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紫外Cary 5000安捷伦 适用于反射率,透射率,反射率,吸光度,测量涂层率,厚度,光学常数
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000用于测定抗反射涂层,玻璃,建筑玻璃,金属/合金,激光镜片,符合行业标准。适用反射率,透射率,反射率,吸光度,测量涂层率,厚度
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪美商菲乐
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一款自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台能够自动移动到选定的测量点,并提供快速的
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量触摸屏膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量汽车车灯膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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