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NexION 300S ICP-MS 测定半导体级TMAH中的杂质 Application Note (010283_01_CN)
TMAH测定半导体级TMAH中的杂质NexION 300S ICP-MS 测定半导体级TMAH中的杂质 Application Note (010283_01_CN)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
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NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硫酸中的杂质 Application Note (010282_01_CN)
硫酸测定半导体级硫酸中的杂质NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硫酸中的杂质 Application Note (010282_01_CN)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
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NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硝酸中的杂质 Application Note (010280_01_CN)
硝酸测定半导体级硝酸中的杂质NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硝酸中的杂质 Application Note (010280_01_CN)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
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使用ACQUITY UPSFC系统分析微量的对映体杂质
来源:沃特世科技(上海)有限公司Waters 资料
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AKF-CAS6卡尔费休水分滴定仪测定冻干粉水分
1. AKF-CAS6卡尔费休水分滴定仪 2. 全封闭安全滴定池组件 3. 电解电极,铂针电极 4. 10mL进样瓶 5. 电子天平 ( 0.1mg) 试剂 1. 滴定剂:库仑法单组份试剂
来源:上海禾工科学仪器有限公司 应用
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Ultimate ODS-3-杂质L制备方法开发报告
来源:月旭科技(上海)股份有限公司 应用
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利用 7700s/7900 ICP-MS 直接分析高纯度盐酸中的痕量金属杂质
来源:安捷伦科技(中国)有限公司 相关产品:Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪 应用
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化学药品杂质研究技术资料-上海(2010.3)培训
1、化学药品杂质的药理毒理要求与问题--程鲁榕 2、化学药品中杂质控制及测定方法--中国药品生物制品检定所--张启明 3、药品标准研究的几个重要指导原则--杨仲元 4、药品杂质谱控制关键技术平台的建立
来源:piaoliang110mei 资料
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AKF-CAS6卡尔费休水分滴定仪测定氟化锂水分
由碳酸锂或氢氧化锂与氢氟酸在铅皿或铂皿中结晶制得。本试验采用AKF-CAS6测定氟化锂样品中的水分含量。 仪器配置 1. AKF-CAS6卡尔费休水分滴定仪 2. 全封闭安全滴定池组件 3. 电解
来源:上海禾工科学仪器有限公司 应用
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AKF-CAS6卡尔费休水分滴定仪测定钽粉水分
来源:上海禾工科学仪器有限公司 应用
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