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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
1、 执行国家标准GB/T511-2010。广泛适用于石油、化工、冶金、电力、交通、商检及科研等部门。2、 核心主机采用TI 公司AM3354处理器,Cortex-A8内核,1GHz主频
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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奥林巴斯 半导体/FPD检测显微镜 MX63/MX63L
背面进行检测模块化:全面可定制新MX63/MX63L显微镜的模块化设计让检测者能够根据应用需要选择组件。两款显微镜均按洁净室应用而设计,并符合SEMI S2/S8、CE和UL要求。所有电动组件均安
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Fluke 63红外测温仪
FLUKE63的技术参数:温度范围:-32℃至535℃ D :S :12:1精 度:±1%重复性:±1.5%或≤±1℃(±2°F),取较大者 响应时间:≤0.5秒(95%读数
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EF-4-63B-SYS
EF-4-30020 4" 漏斗,适用20L长形大试剂瓶 4" 70mm EF-4-63B 4" 漏斗,适用10L横形大试剂瓶 4" 63mm EF-4-63BY 4"漏斗,黄色盖子,适用10L横形大
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EF-4-63C-SYS
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OPM-570L激光功率计
【简单介绍】OPM-570L激光功率计【详细说明】 OPM-570L激光功率计技术参数: OPM-570L激光功率计 产品特点:带护套,半导体激光专用650-680nm可视半导体激光
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WE570 风向传感器
Water 公司出品的WE570风向传感器可以在各种恶劣环境下使用,通过风向标指示风向,通过电位器将信号转换成4-20mA的电流,分辨率非常高。 仪器简介:Global Water
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