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薄膜拉伸试验机
薄膜拉伸试验机 想购买薄膜拉伸试验机?查看最新的薄膜拉伸试验机价格一览表,了解2023年新款薄膜拉伸试验机的报价,为您的购买决策提供参考。薄膜拉伸试验机广泛用于金属
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比表面BELSORP MAX G麦奇克拜尔 可检测玻璃基板和薄膜
麦奇克拜尔全自动比表面和孔隙分析仪BELSORP MAX G用于测定无孔金属材料,玻璃基板和薄膜,符合行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/421
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UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 可检测ZnO薄膜
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定ZnO薄膜,符合行业标准0。适用光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm
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ATGX310涂镀层及薄膜测厚仪奥谱天成
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统,利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。适用于测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能
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FF-200/1300型脂润滑分子泵薄膜电池
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ATGX310系列_光学薄膜厚度测量仪
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统
薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统 ■ 光谱测量范围:200-1100nm ■ 测量重复性:≤3%(主要波长位置) ■ 光源:高稳定、高输出能量
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薄膜介电常数测试仪
接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料 电极类型:固定电极-测量电极φ38mm 测试频率:20HZ-5MHZ 测试电极:黄铜电极 测试环境:室温
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薄膜电弱点测试仪
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薄膜电弱点测试仪
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