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日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 组合使用WDS和EDS
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日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 能提供无缝、舒适的分析环境
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日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 用户友好的操作
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日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪
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场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F电子探针EPMA 样本
(FE-EPMA),此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域,并获得了极高的赞誉。zei新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus,电子光学系统有了很大的改进,新的软件能提供
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电子探针
:52.5o ●二次电子分辩率:6nm(EPMA-1600),5NM(EPMA-1610)主要特点:zei基本的微区分析装置EPMA。电子探针分析如今是在多种领域中不可或缺的重要分析手段
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牛津仪器INCAWave波谱仪
INCA WAVE波谱仪是SEM中很少采用与EPMA相同的全聚焦几何设计的波谱仪。这意味着分辨率提高了2倍,测量更加稳定且可重复。WAVE是一种以其工程精度和质量而闻名的全聚焦光谱仪。WAVE光谱仪
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日本电子电子探针EPMA 场发射电子探针显微分析仪 全新电子光学仪器进展
泛的EPMA应用。2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针(FE-EPMA),此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域,并获得了极高的赞誉。zei新研发的第三代场发射电子探针
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EM-09100IS 离子切片仪
EM-09100IS 离子切片仪用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度(0°到6°)的氩
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SXES软X射线分析谱仪
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