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ZEM15原位拉伸-扫描电镜
ZEM15原位拉伸扫描电镜基于自主研发的台式扫描电镜,集成原位拉伸样品台,对样品进行原位拉伸/压缩/弯曲的过程中实时观察样品表面形貌的变化原位拉伸台参数载荷范围:0-1000N位移分辨率:20nm
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SEM/TEM电镜样品等离子清洗系统
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Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
电镜设备的规格若要查看 Helios 5 HX DualBeam 和 Helios 5 FX DualBeam 的规格,请下载文档部分中的数据表。 半导体应用规格适用于半导体行业的
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扫描电镜高温力学原位研究系统
扫描电镜高温力学原位硏究系统(In-situ mechanical testing system at High temperature in SEM)是国家重大科学仪器研制专项的成果转化产品
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FEI Quanta 650 FEG环境扫描电镜
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飞纳台式扫描电镜Phenom Pro
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主动消磁系统/电镜屏蔽+SPICER CONSULTING
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蔡司SUPRA™ 55场发射扫描电镜
它有独一无二的摆动缓冲系统,并结合了5轴驱动载物台,通过不断变换电压可以获得很高的分辨率。 可以在相对不稳定的环境下完成检测,完全分析型的场发射扫描电镜探针电流可达到20nA.
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电镜连用三维原子探针样品杆
直接转移到APT机上进行进一步表征。(4)兼容所有几何形状的极片间隙。 TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆可与原子探针、透射电镜配套使用,有效地使原子探针和透射电镜检测结合
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PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆
PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆,可在室温条件下对材料施加拉力,结合透射电镜原位观察材料结构的变化。PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆,可在室温条件下对材料施加拉力,结合透射电镜原位
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