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图像分析显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统徕卡 应用于塑料
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8参考多项行业标准圆派科学官网。完成无的检测。可以用在纤维行业领域中的DM6 M微观结构成分分析解决方案项目。 微观结构成分分析解决方案
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显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统徕卡图像分析 可检测金属类
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8适用于金相显微镜LEICA DM4M项目,参考多项行业标准圆派科学仪器。可以检测金属类等样品。可应用于高分子材料行业领域。 高品质
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图像分析徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统 应用于橡胶
Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率,它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术
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显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统图像分析徕卡 应用于塑料
所需要的精确、且可重复的测量分析结果,以便实现材料性能的优化。 ~ 更多产品详情,请致电021-80109380 ~ Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica
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图像分析显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统徕卡 应用于纤维
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8可用于测定金属类,适用于金相显微镜LEICA DM4M项目。并且参考多项行业标准圆派科学仪器。可应用于电子/半导体行业领域。 高品质
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Thick 800AX射线荧光测厚天瑞仪器 应用于高分子材料
0.005mm 采用高度定位激光,可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加
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探针接触式纳米测厚台阶仪
探针接触式纳米测厚台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。
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图像分析徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统 应用于纳米材料
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8适用于LEICA DVM6超景深数码显微镜项目,参考多项行业标准徕卡LEICA DVM6超景深数码显微镜。可以检测植物等样品。可应用
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显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统徕卡图像分析 应用于航空/航天
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8适用于DM6 M微观结构成分分析解决方案项目,参考多项行业标准圆派科学官网。可以检测无等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 微观结构
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显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统图像分析徕卡 应用于纳米材料
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统Leica DCM8可以用在涂料行业领域,用来检测金属类,可完成金相显微镜LEICA DM4M项目。符合多项行业标准圆派科学仪器。 高品质成像选用金相显微镜
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