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铜箔测厚仪 - CMI95M
日立分析仪器CMI95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪,它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度,范围从1/8到4.0盎司/平方英尺(5-140微米)。 日立分析仪器
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IS-95 间隔采样器
IS-95间隔采样器技术规格: 试管数量:174个12或13mm试管 116个10-16mm试管 116个18mm试管或小瓶 42个28mm试管或小瓶采集设置:6s至999min59s,以1s
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Ex-MP4本安型非接触温度测量器
防爆等级及认证:Ex-designationII 2 G Ex ia op is IIC T4EC-TypeExamination CertificateEPS 10 ATEX 1 242 X
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WSB-L白度计
仪器简介:仪器用于测定纸张、建筑材料、淀粉、麦粉、食用白糖、食盐等的兰光白度。仪器为手动校零校标的仪器。适合中小型企业应用。技术参数:测量范围:0~120 照明方式:45/0
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通讯波段偏振消光比测量仪
1260~1630nm偏振消光比测量仪该消光比测试仪PEM-330采用zl技术制造,可实现1260~1630nm全波段测量。只需更换测试光源,无需购买多台消光比测试仪,即可实现不同波段器件的
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ERM100消光比测试仪
技术参数:指标: 波长范围 800-1700 nm zei大消光比 >40 dB ER精度* 0.5 dB ER分辨率 0.1 dB 角度精度* 0.5
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JKXZ-B系列铝锭恒温消煮炉
JKXZ-B系列铝锭恒温消煮炉产品简介JKXZ-B系列铝锭恒温消煮炉又名消化炉,是依据经典湿法消解原理研制的样品消解、转化设备。主要用于农业、林业、环保、地质石油、化工、食品等部门以及高等院校
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谱标 三目生物显微镜 XSP-10CAS
谱标 三目生物显微镜 XSP-10CAS 三、仪器参数: 消色差物镜4X、10X、40X ( spring )(选配)10X、40X ( spring
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Si+Si3N4薄膜
产品名称:Si+Si3N4薄膜(进口料Silicon Nitride Film (PE-CVD) on Front Polished Side of Silicom Wafer P type
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Durham 分层旋转架 1104-95
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