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全自动相变淬火膨胀仪
测量 5-1 检测系统 差动相变测定系统 5-2 测量范围 : 4 挡 0.5, 0.2, 0.1, 0.05mm /±5V 5-3 测量精度 : ±1.0% / F.S. 5-4
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Rheolaser Crystal相变分析仪
Rheolaser Crystal结晶分析仪采用先进的MS-DWS静态多散斑扩散波光谱学原理:当一束激光照射样品时,光子渗透到样品中遇到样品中的颗粒发生散射。当样品中的颗粒浓度高时,就会发生多重散射
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Rheolaser Crystal相变分析仪
Rheolaser Crystal结晶分析仪采用先进的MS-DWS静态多散斑扩散波光谱学原理:当一束激光照射样品时,光子渗透到样品中遇到样品中的颗粒发生散射。当样品中的颗粒浓度高时,就会发生多重散射
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BELSORP MINI X全自动比表面积及孔径分布测定仪麦奇克拜尔 适用于BJH理论用于多孔二氧化硅的介孔分析
麦奇克拜尔比表面BELSORP MINI X用于测定多孔二氧化硅,符合行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/426。适用BJH理论用于多孔二氧化硅的
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耐驰差示扫描量热仪 DSC 3500 Sirius 适用于氧敏感材料的相变测试
耐驰差示扫描量热仪 DSC 3500 Sirius可以用在药品包装材料行业领域,用来检测氧敏感材料,可完成氧敏感材料的相变测试项目。符合多项行业标准圆派科学仪器。 DSC 3500 Sirius
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WIinner2000激光粒度仪微纳颗粒 Mie理论在静态光散射粒度测量的应用下限研
微纳颗粒激光粒度仪WIinner2000可以用在纳米材料行业领域,用来检测乳液、干粉,可完成Mie理论在静态光散射粒度测量的应用下限研项目。符合多项行业标准粉体技术。 静态光散射粒度分析,主要是依据
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低温全自动相变淬火膨胀仪
)膨胀测量 6-1 检测系统 差动相变测定系统 6-2 测量范围 : 4 挡 0.5, 0.2, 0.1, 0.05mm /±5V 6-3 测量精度 : ±1.0% / F.S.
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WIinner2000湿法激光粒度仪微纳颗粒 Mie理论在静态光散射粒度测量的应用下限研
微纳颗粒激光粒度仪WIinner2000参考多项行业标准粉体技术。完成乳液、干粉的检测。可以用在纳米材料行业领域中的Mie理论在静态光散射粒度测量的应用下限研项目。 静态光散射粒度分析,主要是依据
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麦奇克拜尔全自动比表面积及孔径分布测定仪BELSORP MINI X BJH理论用于多孔二氧化硅的介孔分析 (IV型等温吸附线)
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沥青混合料理论相对密度仪
沥青混合料理论相对密度仪适用范围 本仪器适用于真空法测定沥青混合料理论最大相对密度,供沥青混合料配合比设计、路况调查或路面施工质量管理计算空隙率供应商河北大宏实验仪器有限公司、压实度等使用。本
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