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F40薄膜厚度测量仪
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统
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Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪
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Kromasil Classic SIL 色谱柱
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薄膜厚度台阶仪
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析
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F60-t 薄膜厚度测量仪
自动化薄膜厚度绘图系统依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户
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F10-AR 薄膜厚度测量仪
F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。虽然价格大大低于当今绝大多数同类仪器,应用几项技术
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F10-HC 薄膜厚度测量仪
以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。
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精微高博比表面及孔径测试仪JW-BK200C
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MOFs/COFs高性能比表面测试仪JW-BK200
MOFs/COFs高性能比表面测试仪 JW-BK200C研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪,完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点,自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌
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