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多晶硅和单晶硅标准太阳能电池
规格参数尺寸和外观测试条件光伏材料单晶硅/多晶硅光谱AM1.5光伏器件尺寸20mm x 20mm标定温度25oC窗口材料空间抗辐照盖片标定辐照度1000 W/m2外围材料空间抗辐照盖片波长范围
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2429600-CN硅试剂
货号适用仪器型号说明参数分析方法包装量程27169-CN二氧化硅3试剂粉枕,pk/100二氧化硅8186分光光度计粉枕100/pk0.010-1.600mg/L,SiO₂2678500-CN硅试剂
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硅基底石墨烯膜
产品名称硅基底石墨烯膜硅片厚度700um硅片表面氧化硅厚度300nm硅片表面石墨烯光学形貌 硅片表面石墨烯Raman 光谱 硅基底名称规格方阻(□/sq) 备注单层石墨烯膜1cm
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2230XP硅表
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硅表标液2035902
美国HACH公司波利梅特龙Polymetron电力仪表常用配件:Polymetron 9610sc在线硅表硅表试剂2035600-CNR1硅表试剂2035702-CNR2硅表试剂
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Entech硅涂层采样罐
流量范围0.12ml/min-400ml/min最高流量和阻力下运行时间10min-2h最大流量和阻力下使用寿命≥5000h流量稳定性24h≤±1%流量计精度±1.5%技术参数:· 采用先进的
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硅光电探测器
仪器简介: 硅光电探测器(Si) ———室温型探测器,波长范围:200-1100nm 技术参数: 型号列表及主要技术指标: 技术指标\型号名称
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钢铁锰磷硅分析仪,铸造锰磷硅分析仪
年,终身维修服务,欢迎来电咨询。 采用“智能动态数据捕捉”和“标准曲线的非线性回归”技术,具有断电数据保护、自诊断功能 钢铁锰磷硅分析仪,铸造锰磷硅分析仪一、应用领域钢铁锰磷硅分析仪,铸造锰磷硅
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芯片扫描仪VersArray ChipReader
VersArray ChipReader 系统是专为优质而快速地对芯片进行数据采集而设计的高度灵敏激光共聚焦系统。这种先进的扫描仪采用了zl的技术,能增加信号采集并最大限度地提高使用简便性
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iTWO生物芯片点样仪
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