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Aquilos 2 Cryo-FIB赛默飞FIB-SEM 电子显微镜产品目录
更薄的冷冻超薄切片。离子束减薄能够制备无压缩的冷冻超薄切片样品,以进行透射断层成像。使用冷冻聚焦离子束减薄可以有效地避免伪影的产生,而使用冷冻超薄切片机制备冷冻超薄切片过程中会形成机械压缩,因而
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Aquilos 2 Cryo-FIB(原FEI)冷冻聚焦离子束显微镜赛默飞 其他资料
的冷冻超薄切片。仓室内专用的硬件可确保最低程度的样品冰污染,损坏和相关精度的损失。制备没有切割伪影的更薄的冷冻超薄切片。离子束减薄能够制备无压缩的冷冻超薄切片样品,以进行透射断层成像。使用冷冻聚焦
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Aquilos 2 Cryo-FIB(原FEI)冷冻聚焦离子束显微镜FIB-SEM 应用于电池/锂电池
样品冰污染,损坏和相关精度的损失。制备没有切割伪影的更薄的冷冻超薄切片。离子束减薄能够制备无压缩的冷冻超薄切片样品,以进行透射断层成像。使用冷冻聚焦离子束减薄可以有效地避免伪影的产生,而使用冷冻超薄
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赛默飞FIB-SEM(原FEI)冷冻聚焦离子束显微镜 锂电池行业应用解决方案
的损失。制备没有切割伪影的更薄的冷冻超薄切片。离子束减薄能够制备无压缩的冷冻超薄切片样品,以进行透射断层成像。使用冷冻聚焦离子束减薄可以有效地避免伪影的产生,而使用冷冻超薄切片机制备冷冻超薄切片过程中
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赛默飞Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM 应用于电子/半导体
的损失。制备没有切割伪影的更薄的冷冻超薄切片。离子束减薄能够制备无压缩的冷冻超薄切片样品,以进行透射断层成像。使用冷冻聚焦离子束减薄可以有效地避免伪影的产生,而使用冷冻超薄切片机制备冷冻超薄切片过程中
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Leica EM RES102电镜制样 多功能离子减薄仪 应用于电子/半导体
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徕卡电镜制样 多功能离子减薄仪 可检测小零件的微纳镀层
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102参考多项行业标准圆派科学。完成小零件的微纳镀层的检测。可以用在生物质材料行业领域中的小零件的微纳镀层截面CP制备项目。 微小零件的微纳镀层截面CP
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Leica EM RES102电镜制样 多功能离子减薄仪 应用于电子/半导体
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102可以用在地矿/有色金属行业领域,用来检测小零件的微纳镀层,可完成小零件的微纳镀层截面CP制备项目。符合多项行业标准圆派科学。 微小零件的微纳镀层
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Leica EM RES102徕卡 多功能离子减薄仪 应用于高分子材料
徕卡 多功能离子减薄仪Leica EM RES102可以用在地矿/有色金属行业领域,用来检测小零件的微纳镀层,可完成小零件的微纳镀层截面CP制备项目。符合多项行业标准圆派科学。 微小零件的微纳镀层
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镶嵌式烘箱(数字减影技术)
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