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EDS牛津仪器硅漂移探测器 材料成分和结构
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硅漂移探测器牛津仪器EDS 纳米材料生长和表征
有助于快速获取元素分布图,包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的
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牛津仪器硅漂移探测器EDS 可检测and
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硅漂移探测器EDSX-Max TEM 应用于电子/半导体
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EDS硅漂移探测器X-Max TEM 适用于Construction Materials
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EDS硅漂移探测器X-Max TEM 应用于纳米材料
0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率,尤其是对于轻元素,意味着所有能量都有更多的计数配置、极靴和TEM相关。TEM中EDS探测器性能中一个重要的指标是
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EDS硅漂移探测器X-Max TEM 可检测Particles
的低噪声探测器设计,具有出色的分辨率和灵敏度 - 即使在高计数率下也是如此 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计,可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与低能
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牛津仪器EDS硅漂移探测器 适用于Identifying contaminants in Li-Ion battery production using AZtecFeature
应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率,尤其是对于轻元素,意味着所有能量都有更多的计数配置、极靴和TEM相关。TEM中EDS
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硅漂移探测器X-Max TEM牛津仪器 应用于生物质材料
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EDSX-Max TEM硅漂移探测器 可检测Semiconductors
软件计算有助于快速获取元素分布图,包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有
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